高分辨率X射线衍射标准品（HRXRD），如NIST SRM 2000，是一种为HRXRD社区提供国际单位制（SI）可追踪的校准标准的材料。这些标准品为实验者提供了准确的参考，以确保X射线衍射实验的结果具有高度的准确性和可靠性。

NIST SRM 2000 高分辨率X射线衍射标准品的一个单元通常包括标称50 nm的25 mm×25 mm×0.725 mm双抛光(100)取向单晶Si。它提供了关于Si(220) d间距、透射面到晶面晶片以及参考波长的反射中的表面到Si(004)布拉格角等关键参数的信息。

这些高分辨率X射线衍射标准品SRM 2000在材料科学、物理学、化学和工程学等领域中具有重要的应用，用于研究材料的晶体结构、相变、缺陷和应力等性质。通过使用这些标准品，研究人员可以准确地校准他们的X射线衍射设备，从而获得更可靠和准确的实验结果。

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